Microdensitometro computerizzato Perkin-Elmer (PDS)

Anno: 197?
Costruttore: Perkin Elmer Corp. (US)
Materiali: ghisa, acciaio, ottone, vetro ottico
Dimensioni: L = 2000 mm; P = 2000 mm; H = 2300 mm

Realizzato negli anni Settanta dalla Perkin-Elmer Corp. negli Stati Uniti, questo microdensitometro computerizzato rappresenta un’evoluzione nella misurazione della densità ottica delle lastre fotografiche. Grazie a una risoluzione spaziale di 1 micron e a una velocità di analisi di circa 200 mm al secondo, lo strumento offriva precisione e rapidità superiori rispetto ai dispositivi precedenti.

Il principio di funzionamento è semplice ma efficace: un fascio di luce di intensità nota attraversa la lastra in un punto specifico, e il tubo fotoelettrico misura la luce trasmessa, proporzionale al grado di annerimento. Questo sistema consentiva di effettuare analisi di brillanza superficiale di oggetti estesi e misure spettrofotometriche con grande accuratezza, rendendolo uno strumento chiave per l’astrofotografia e la spettroscopia.